| Автор | English, A T |
| Автор | Melliar-Smith, C M |
| Дата выпуска | 1978 |
| Формат | application.pdf |
| Издатель | Annual Reviews |
| Копирайт | Annual Reviews |
| Название | Reliability and Failure Mechanisms of Electronic Materials |
| DOI | 10.1146/annurev.ms.08.080178.002331 |
| Print ISSN | 0084-6600 |
| Журнал | Annual Review of Materials Science |
| Том | 8 |
| Первая страница | 459 |
| Последняя страница | 495 |
