| Автор | Bell, L D |
| Автор | Kaiser, W J |
| Дата выпуска | 1996 |
| Формат | application.pdf |
| Издатель | Annual Reviews |
| Копирайт | Annual Reviews |
| Название | Ballistic-Electron-Emission Microscopy: A Nanometer-Scale Probe of Interfaces and Carrier Transport |
| DOI | 10.1146/annurev.ms.26.080196.001201 |
| Print ISSN | 0084-6600 |
| Журнал | Annual Review of Materials Science |
| Том | 26 |
| Первая страница | 189 |
| Последняя страница | 222 |
