| Автор | Bergman, L |
| Автор | Nemanich, R J |
| Дата выпуска | 1996 |
| Формат | application.pdf |
| Издатель | Annual Reviews |
| Копирайт | Annual Reviews |
| Название | Raman Spectroscopy for Characterization of Hard, Wide-Bandgap Semiconductors: Diamond, GaN, GaAlN, AlN, BN |
| DOI | 10.1146/annurev.ms.26.080196.003003 |
| Print ISSN | 0084-6600 |
| Журнал | Annual Review of Materials Science |
| Том | 26 |
| Первая страница | 551 |
| Последняя страница | 579 |
