| Автор | Gai, P.L. |
| Дата выпуска | 2007 |
| ISBN | 978-0-85404-241-8 |
| Формат | application.pdf |
| Издатель | Royal Society of Chemistry |
| Название | Chapter 7. <i>In-situ Environmental Transmission Electron Microscopy</i> |
| Тип | other |
| DOI | 10.1039/9781847557926-00268 |
| Print ISSN | 1757-7136 |
| Журнал | Nanocharacterisation |
| Первая страница | 268 |
| Последняя страница | 290 |
| Аффилиация | Gai P.L.; Department of Chemistry and Department of Physics, The Yorkâ JEOL Nanocentre, University of York; Central Research and Development Laboratories; University of Delaware |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Catal. Rev. Sci. Eng., 1992, 34, 1 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Curr. Opin. Solid State Mater. Sci., 1999, 4, 63 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Top. Catal., 2002, 21, 168 |
| Библиографическая ссылка | R. Sinclair, T. Yamashita, F. Ponce, Nature, 1981, 290, 386 |
| Библиографическая ссылка | D.W. Pashley, M.J. Stowell, M.H. Jacobs, T.J. Law, Philos. Mag., 1964, 10, 127 |
| Библиографическая ссылка | K. Yagi, K. Kobayashi, Y. Tanishiro, K. Takayanagi, Thin Solid Films, 1985, 126, 95 |
| Библиографическая ссылка | H. Hashimoto, Jpn. J. Appl. Phys., 1968, 7, 946 |
| Библиографическая ссылка | P. R. Swann, N. Tighe, Jernkont. Ann., 1971, 155, 251 |
| Библиографическая ссылка | D. Double, A. Hellawell, S. Perry, Proc. Roy. Soc., 1978, A359, 435 |
| Библиографическая ссылка | D. F. Parsons, Science, 1974, 186, 407 |
| Библиографическая ссылка | R.T.K. Baker, Catal. Rev. Sci. Eng., 1979, 19, 161 |
| Библиографическая ссылка | R.C. Doole, G. Parkinson, J.M. Stead, Inst. Phys. Conf. Ser., 1991, 119, 161 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, W. Thoni, P.B. Hirsch, J. Less-Common Met., 1977, 54, 263 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, M.J. Goringe, Krist. Tech., 1979, 14, 1385 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, C.J. Humphreys, A.E. Webb, D.R. Pyke, J.C.J. Bart, Inst. Phys. Conf. Ser., 1980, 52, 317 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Philos. Mag., 1981, 43, 841 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, E.D. Boyes, J.C.J. Bart, Philos. Mag., 1982, A45, 531 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, J. Solid State Chem., 1983, 49, 25 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Philos. Mag., 1983, 48, 359 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, P.A. Labun, J. Catal., 1985, 94, 79 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, B.C. Smith, G. Owen, Nature, 1990, 348, 430 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, B.C. Smith, Ultramicroscopy, 1990, 34, 17 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, J. Solid State Chem., 1993, 104, 119 |
| Библиографическая ссылка | T.C. Lee, D. Dewald, J. Eades, I.M. Roberetson, H.K. Birnbaum, Rev. Sci. Instrum., 1991, 62, 1438 |
| Библиографическая ссылка | P. Crozier, R. Sharma, A. Datye, Proc. of Micr. Soc. of America, 1998, 4, 228 |
| Библиографическая ссылка | P. L. Gai, K. Kourtakis, Science, 1995, 267, 661 |
| Библиографическая ссылка | E.D. Boyes, P.L. Gai, Ultramicroscopy, 1997, 67, 219 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Acta. Crystallogr., 1997, B53, 346 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Adv. Mater., 1998, 10, 1259 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Top. Catal., 1999, 8, 97 |
| Библиографическая ссылка | T. Hansen, J. Wagner, P.L. Hansen, H.T. Topsoe, S. Dahl, Science, 2001, 294, 1508 |
| Библиографическая ссылка | V. Oleshko, P. Crozier, R. Cantrell, A. Westwood, J. Electron Microsc., 2002, 51, S27 |
| Библиографическая ссылка | R. Wang, P. Crozier, R. Sharma, J. Adams, Microsc. Microanal., 2005, 11, Suppl. 2, 216 |
| Библиографическая ссылка | R. Sharma, P. Crozier, Microsc. Microanal., 2003, 9, CD314 |
| Библиографическая ссылка | R. Sharma, P. Crozier, L. Eyring, F.C. Kang, Philos. Mag., 2004, 84, 2731 |
| Библиографическая ссылка | P.J. Li, J. Liu, N. Nag, P. Crozier, Microsc. Microanal., 2005, 11, suppl. 2, 1538CD |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Inst. Phys. Conf. Ser., 2001, 168, 401 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, K. Kourtakis, S. Ziemecki, Microsc. Microanal., 2000, 6, 335 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Curr. Opin. Solid State Mater. Sci., 2001, 5, 371 |
| Библиографическая ссылка | F. Nagata, I. Ishikawa, Jpn. J. Appl. Phys., 1972, 11, 1293 |
| Библиографическая ссылка | K. Fukushima, A. Ishikawa, A. Fukami, J. Electron Microsc., 1985, 34, 47 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Microsc. Microanal., 2002, 8, 21 |
| Библиографическая ссылка | C. De Bellefon, P. Fouilloux, Catal. Rev. Sci. Eng., 1994, 36, 459 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, K. Kourtakis, E.D. Boyes, Catal. Lett., 2005, 102, 1 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, K. Kourtakis, D.R. Coulson, G.C. Sonnichsen, J. Phys. Chem., 1997, 101, 9916 |
| Библиографическая ссылка | K. Kourtakis, P.L. Gai, J. Molec. Catal., 2004, 220, 93 |
| Библиографическая ссылка | J.M. Thomas, P.L. Gai, Adv. Catal., 2004, 48, 171 |
| Библиографическая ссылка | S. Iijima, Nature, 1991, 354, 56 |
| Библиографическая ссылка | A. Thess, P.G. Collins, A. Fettle, R.E. Sunauey, Science, 1997, 273, 219 |
| Библиографическая ссылка | M.J. Goringe, A. Rawcliffe, A. Burden, J.L. Hutchison, R.C. Doole, Faraday Discuss., 1996, 105, 102 |
| Библиографическая ссылка | S. Iijima, Microsc. Microanal., 2005, 11, suppl.2, 1544CD |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, J.G. Lavin, E.D. Boyes, Electron Microsc., 1998, 3, 510 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, O. Stephan, K. McGuire, A.M. Rao, M.S. Dresselhaus, G. Dresselhaus, C. Colliex, J. Mater. Chem., 2004, 14, 669 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, E.D. Boyes, Mater. Res. Soc. Sym. Proc., 2005, 12, 876E |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, Microsc. Microanal., 2006, 12, 48 |
| Библиографическая ссылка | S. Trasobares, J. Bivvel, X. Xiao, C. Ewels, O. Stephan, J. Carlisle, P.M. Ajayan, Adv. Mater., 2004, 16, 610 |
| Библиографическая ссылка | P.L. Gai, L.G. Hanna, E.D. Boyes, Microsc. Microanal., 2005, 11, suppl. 2, 1526CD |
