Автор |
Cheran, Larisa-Emilia |
Автор |
Thompson, Michael |
Дата выпуска |
2004 |
dc.description |
The detection of the initial changes in the surface microstructure and local chemical properties connected to the corrosion process is possible using a high-resolution scanning Kelvin nanoprobe. This technique provides the simultaneous imaging of the topographical features and potential distribution across a surface at the sub-micrometer level. Nanoprobe measurements performed on samples of Al, Cu, Fe, Ni, Ag and Pt before and after exposure to different corroding solutions reveal the significant changes that take place during the first stages of the corrosion process. The similarities of the images obtained subsequent to corrosion are reflective of surface fractal behavior. |
Формат |
application.pdf |
Издатель |
Royal Society of Chemistry |
Название |
Sub-micrometre imaging of metal surface corrosion by scanning Kelvin nanoprobe |
Тип |
research-article |
DOI |
10.1039/b401795c |
Electronic ISSN |
1364-5528 |
Print ISSN |
0003-2654 |
Журнал |
Analyst |
Том |
129 |
Первая страница |
406 |
Последняя страница |
409 |
Аффилиация |
Cheran Larisa-Emilia; Department of Chemistry, University of Toronto |
Аффилиация |
Thompson Michael; Department of Chemistry, University of Toronto |
Выпуск |
5 |
Библиографическая ссылка |
M. Stratmann, Corros. Sci., 1987, 27, 8, 869, 872 |
Библиографическая ссылка |
S. Yee, R. A. Oriani, M. Stratmann, J. Electrochem. Soc., 1991, 138, 1, 55, 61 |
Библиографическая ссылка |
J. A. Chalmers, Philos. Mag. Ser. 7, 1942, 33, 221 |
Библиографическая ссылка |
C. Herring, H. Nichols, Rev. Mod. Phys., 1949, 21, 185 |
Библиографическая ссылка |
R. H. Fowler, Phys. Rev., 1957, 107, 1553 |
Библиографическая ссылка |
R. V. Culver, F. C. Tompkins, Adv. Catal., 1959, 11, 67, 131 |
Библиографическая ссылка |
E. P. Gyftopoulos, J. D. Levine, J. Appl. Phys., 1962, 33, 1, 67 |
Библиографическая ссылка |
L. E. Cheran, H. D. Liess, M. Thompson, Analyst, 1999, 124, 961 |
Библиографическая ссылка |
L. E. Cheran, M. E. McGovern, M. Thompson, Faraday Discuss., 2000, 116, 23, 34 |
Библиографическая ссылка |
P. Schmutz, G. S. Frankel, J. Electrochem. Soc., 1988, 145, 7, 2285 |
Библиографическая ссылка |
R. A. Oriani, J. Electrochem. Soc., 1991, 138, 55 |
Библиографическая ссылка |
Lord Kelvin, Philos. Mag., 1898, 46, 82 |
Библиографическая ссылка |
W. A. Zissman, Rev. Sci. Instrum., 1932, 3, 367 |
Библиографическая ссылка |
P. Craig, V. Radeka, Rev. Sci. Instrum., 1970, 41, 2, 258 |
Библиографическая ссылка |
S. J. Danyluk, J. Phys. E: Sci. Instrum., 1972, 5, 478 |
Библиографическая ссылка |
J. Bonnet, L. M. Palau, L. Soonckindt, L. Lassabatere, J. Phys. E: Sci. Instrum., 1977, 10, 212 |
Библиографическая ссылка |
M. Nonnenmacher, M. P. O'Boyle, H. K. Wickramasinghe, Ultramicroscopy, 1992, 42â 44, 268, 273 |
Библиографическая ссылка |
W. Nabhan, B. Eqer, A. Broniatowski, G. De Rosny, Rev. Sci. Instrum, 1997, 68, 8, 3108, 3111 |
Библиографическая ссылка |
H. A. Engelhardt, P. Feulner, H. Pfnür, D. Menzel, J. Phys E: Sci. Instrum., 1977, 19, 1133 |
Библиографическая ссылка |
H. C. Potter, J. M. Blakely, J. Vac. Sci. Technol., 1975, 12, 2, 635 |
Библиографическая ссылка |
J. D. Baikie, G. H. Bruggink, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 1993, 309 |
Библиографическая ссылка |
L. Hanley, X. Guo, J. T. Yates, J. Phys. Chem., 1989, 93, 6754, 6757 |