Мобильная версия

Доступно журналов:

3 288

Доступно статей:

3 891 637

 

Скрыть метаданые

Автор Cheran, Larisa-Emilia
Автор Thompson, Michael
Дата выпуска 2004
dc.description The detection of the initial changes in the surface microstructure and local chemical properties connected to the corrosion process is possible using a high-resolution scanning Kelvin nanoprobe. This technique provides the simultaneous imaging of the topographical features and potential distribution across a surface at the sub-micrometer level. Nanoprobe measurements performed on samples of Al, Cu, Fe, Ni, Ag and Pt before and after exposure to different corroding solutions reveal the significant changes that take place during the first stages of the corrosion process. The similarities of the images obtained subsequent to corrosion are reflective of surface fractal behavior.
Формат application.pdf
Издатель Royal Society of Chemistry
Название Sub-micrometre imaging of metal surface corrosion by scanning Kelvin nanoprobe
Тип research-article
DOI 10.1039/b401795c
Electronic ISSN 1364-5528
Print ISSN 0003-2654
Журнал Analyst
Том 129
Первая страница 406
Последняя страница 409
Аффилиация Cheran Larisa-Emilia; Department of Chemistry, University of Toronto
Аффилиация Thompson Michael; Department of Chemistry, University of Toronto
Выпуск 5
Библиографическая ссылка M. Stratmann, Corros. Sci., 1987, 27, 8, 869, 872
Библиографическая ссылка S. Yee, R. A. Oriani, M. Stratmann, J. Electrochem. Soc., 1991, 138, 1, 55, 61
Библиографическая ссылка J. A. Chalmers, Philos. Mag. Ser. 7, 1942, 33, 221
Библиографическая ссылка C. Herring, H. Nichols, Rev. Mod. Phys., 1949, 21, 185
Библиографическая ссылка R. H. Fowler, Phys. Rev., 1957, 107, 1553
Библиографическая ссылка R. V. Culver, F. C. Tompkins, Adv. Catal., 1959, 11, 67, 131
Библиографическая ссылка E. P. Gyftopoulos, J. D. Levine, J. Appl. Phys., 1962, 33, 1, 67
Библиографическая ссылка L. E. Cheran, H. D. Liess, M. Thompson, Analyst, 1999, 124, 961
Библиографическая ссылка L. E. Cheran, M. E. McGovern, M. Thompson, Faraday Discuss., 2000, 116, 23, 34
Библиографическая ссылка P. Schmutz, G. S. Frankel, J. Electrochem. Soc., 1988, 145, 7, 2285
Библиографическая ссылка R. A. Oriani, J. Electrochem. Soc., 1991, 138, 55
Библиографическая ссылка Lord Kelvin, Philos. Mag., 1898, 46, 82
Библиографическая ссылка W. A. Zissman, Rev. Sci. Instrum., 1932, 3, 367
Библиографическая ссылка P. Craig, V. Radeka, Rev. Sci. Instrum., 1970, 41, 2, 258
Библиографическая ссылка S. J. Danyluk, J. Phys. E: Sci. Instrum., 1972, 5, 478
Библиографическая ссылка J. Bonnet, L. M. Palau, L. Soonckindt, L. Lassabatere, J. Phys. E: Sci. Instrum., 1977, 10, 212
Библиографическая ссылка M. Nonnenmacher, M. P. O'Boyle, H. K. Wickramasinghe, Ultramicroscopy, 1992, 42â 44, 268, 273
Библиографическая ссылка W. Nabhan, B. Eqer, A. Broniatowski, G. De Rosny, Rev. Sci. Instrum, 1997, 68, 8, 3108, 3111
Библиографическая ссылка H. A. Engelhardt, P. Feulner, H. Pfnür, D. Menzel, J. Phys E: Sci. Instrum., 1977, 19, 1133
Библиографическая ссылка H. C. Potter, J. M. Blakely, J. Vac. Sci. Technol., 1975, 12, 2, 635
Библиографическая ссылка J. D. Baikie, G. H. Bruggink, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 1993, 309
Библиографическая ссылка L. Hanley, X. Guo, J. T. Yates, J. Phys. Chem., 1989, 93, 6754, 6757

Скрыть метаданые