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Cambridge University Press: Recent submissions

Описание
  • Electron scattering mechanisms in ITGO (Sn+Ge doped In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) thin films for low emittance window coatings
    Salardenne, J.; Marcel, C.; Xu, Y.; Couturier, G.; Salardenne J.; CPMOH, Université de Bordeaux I, 351 Cours de la Libération, 33405 Talence Cedex, France; Marcel C.; CPMOH, Université de Bordeaux I, 351 Cours de la Libération, 33405 Talence Cedex, France; Xu Y.; CPMOH, Université de Bordeaux I, 351 Cours de la Libération, 33405 Talence Cedex, France; Couturier G.; CPMOH, Université de Bordeaux I, 351 Cours de la Libération, 33405 Talence Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Determination of viscoelastic moduli at a submicrometric scale
    Basire, C.; Frétigny, C.; Basire C.; ESPCI/LPQ, Systèmes Interfaciaux à l'Échelle Nanométrique (ESA 7069 du CNRS), 10 rue Vauquelin, 75231 Paris, Cedex 05, France; Rhodia Recherches, 52 rue de la Haie Coq, 93308 Aubervilliers Cedex, France; Frétigny C.; ESPCI/LPQ, Systèmes Interfaciaux à l'Échelle Nanométrique (ESA 7069 du CNRS), 10 rue Vauquelin, 75231 Paris, Cedex 05, France (EDP Sciences, 1999)
  • Breakdown probability and influence on breakdown delay
    Marković, V. Lj.; Gocić, S. R.; Radović, M. K.; Marković V. Lj.; Department of Physics, University of Niš, P.O. Box 91, 18001 Niš, Yugoslavia; Gocić S. R.; Department of Physics, University of Niš, P.O. Box 91, 18001 Niš, Yugoslavia; Radović M. K.; Department of Physics, University of Niš, P.O. Box 91, 18001 Niš, Yugoslavia (EDP Sciences, 1999)
  • Degeneration effects in laser cavities
    Zhang, Q.; Ozygus, B.; Weber, H.; Zhang Q.; Optisches Institut der TU Berlin, Straße des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany; Ozygus B.; Optisches Institut der TU Berlin, Straße des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany; Weber H.; Optisches Institut der TU Berlin, Straße des 17. Juni 135, 10623 Berlin, Germany (EDP Sciences, 1999)
  • Experimental and numerical tools for miscible fluid displacements studies in porous media with large heterogeneities
    Berest, P.; Rakotomalala, N.; Hulin, J. P.; Salin, D.; Berest P.; Laboratoire Fluides, Automatique et Systèmes Thermiques (UMR 7608 associated to CNRS and to the Pierre et Marie Curie and Paris-Sud Universities), bâtiment 502, Campus Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France; Rakotomalala N.; Laboratoire Fluides, Automatique et Systèmes Thermiques (UMR 7608 associated to CNRS and to the Pierre et Marie Curie and Paris-Sud Universities), bâtiment 502, Campus Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France; Hulin J. P.; Laboratoire Fluides, Automatique et Systèmes Thermiques (UMR 7608 associated to CNRS and to the Pierre et Marie Curie and Paris-Sud Universities), bâtiment 502, Campus Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France; Salin D.; Laboratoire Fluides, Automatique et Systèmes Thermiques (UMR 7608 associated to CNRS and to the Pierre et Marie Curie and Paris-Sud Universities), bâtiment 502, Campus Paris-Sud, 91405 Orsay Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Surface passivation of composition graded base in GaAlAs/GaInP/GaAs heterojunction bipolar transistor
    Bourguiga, R.; Sik, H.; Scavennec, A.; Bourguiga R.; Faculté des Sciences de Bizerte, 7021 Zarzouna-Bizerte, Tunisia; Sik H.; France Télécom, Centre National d'Études des Télécommunications, Paris B, Laboratoire de Bagneux, 196 avenue Henri Ravera, B.P. 107, 92225 Bagneux Cedex, France; Scavennec A.; France Télécom, Centre National d'Études des Télécommunications, Paris B, Laboratoire de Bagneux, 196 avenue Henri Ravera, B.P. 107, 92225 Bagneux Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Simultaneous measurement of film and substrate optical parameters from multiple sample single wavelength ellipsometric data
    Easwarakhanthan, T.; Alnot, P.; Easwarakhanthan T.; Laboratoire de Physique des Milieux Ionisés (URA 835 du CNRS), B.P. 239, Université de Nancy I, 54506 Vandœuvre-lès-Nancy Cedex, France; Alnot P.; Laboratoire de Physique des Milieux Ionisés (URA 835 du CNRS), B.P. 239, Université de Nancy I, 54506 Vandœuvre-lès-Nancy Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Strain relaxation in buried strained layers by mixture of single and dipolar dislocation arrays
    Jin, Z.; Yang, S.; Ma, C.; Liu, S.; Jin Z.; State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, Jilin University, Department of Electrical Engineering, Changchun 130023, P.R. China; Yang S.; State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, Jilin University, Department of Electrical Engineering, Changchun 130023, P.R. China; Ma C.; State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, Jilin University, Department of Electrical Engineering, Changchun 130023, P.R. China; Liu S.; State Key Laboratory on Integrated Optoelectronics, Jilin University, Department of Electrical Engineering, Changchun 130023, P.R. China (EDP Sciences, 1999)
  • Electrical properties of K<sub>2</sub>ZnCl<sub>4</sub> crystals pure and doped with Co<sup>2+</sup> ions between 300 and 500 K
    Abu El-Fadl, A.; Abu El-Fadl A.; Physics Department, Faculty of Science, Assiut University Assiut, Egypt (EDP Sciences, 1999)
  • Simulation of mesa structures for III-V semiconductors under ion beam etching
    Houlet, L.; Rhallabi, A.; Turban, G.; Houlet L.; Laboratoire des Plasmas et des Couches Minces, Institut des Matériaux de Nantes (UMR 6502 du CNRS), Université de Nantes, B.P. 32229, 2 rue de la Houssinière, 44322 Nantes Cedex 3, France; Rhallabi A.; Laboratoire des Plasmas et des Couches Minces, Institut des Matériaux de Nantes (UMR 6502 du CNRS), Université de Nantes, B.P. 32229, 2 rue de la Houssinière, 44322 Nantes Cedex 3, France; Turban G.; Laboratoire des Plasmas et des Couches Minces, Institut des Matériaux de Nantes (UMR 6502 du CNRS), Université de Nantes, B.P. 32229, 2 rue de la Houssinière, 44322 Nantes Cedex 3, France (EDP Sciences, 1999)
  • Plastic densification in silica aerogels
    Woignier, T.; Beurroies, I.; Delord, P.; Gibiat, V.; Sempere, R.; Phalippou, J.; Woignier T.; Laboratoire des Verres (UMR 5587), Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex, France; Beurroies I.; Laboratoire des Verres (UMR 5587), Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex, France; Delord P.; Groupe de Dynamique des Phases Condensées, Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex, France; Gibiat V.; Laboratoire Ondes acoustiques (URA 1503), ESPCI, Université Paris 7, 10 rue Vauquelin, 75005 Paris, France; Sempere R.; Laboratoire des Verres (UMR 5587), Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex, France; Phalippou J.; Laboratoire des Verres (UMR 5587), Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • DoMayn-orientation dependence and low anisotropy factor of levitation force in top-seeded melt-textured bulk YBCO
    Kaiser, A. W.; Bornemann, H. J.; Jung, V.; Kaiser A. W.; Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, INFP, P.O. Box 3640, 76021 Karlsruhe, Germany; Bornemann H. J.; Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, INFP, P.O. Box 3640, 76021 Karlsruhe, Germany; Jung V.; Forschungszentrum Karlsruhe GmbH, INFP, P.O. Box 3640, 76021 Karlsruhe, Germany (EDP Sciences, 1999)
  • Electro-acoustic modulator for X-ray based digital data transmission
    Tucoulou, R.; Brunel, M.; Mouget, C.; Roshchupkin, D. V.; Schelokov, I. A.; Tucoulou R.; European Synchrotron Radiation Facility, B.P. 220, 38043 Grenoble Cedex, France ; Laboratoire de Cristallographie, CNRS, B.P. 166, 38042 Grenoble Cedex, France; Brunel M.; Laboratoire de Cristallographie, CNRS, B.P. 166, 38042 Grenoble Cedex, France; Mouget C.; Laboratoire de Cristallographie, CNRS, B.P. 166, 38042 Grenoble Cedex, France; Roshchupkin D. V.; Institute of Microelectronics Technology, Russian Academy of Sciences, 142432 Chernogolovka, Moscow District, Russia; Schelokov I. A.; Institute of Microelectronics Technology, Russian Academy of Sciences, 142432 Chernogolovka, Moscow District, Russia (EDP Sciences, 1999)
  • Thermodynamic modeling of creep mechanical behaviour by non linear relaxations
    Ayadi, Z.; Marceron, P.; Schmitt, J.-F.; Cunat, C.; Ayadi Z.; Laboratoire de Science et Génie des Surfaces (UMR 7570 du CNRS), École Européenne d'Ingénieur en Génie des Matériaux, 6 rue Bastien Lepage, B.P. 630, 54010 Nancy Cedex, France; Marceron P.; Laboratoire d'Énergétique et de Mécanique Théorique et Appliquée (UMR 7563 du CNRS), École Nationale Supérieure d'Électricité et de Mécanique, 2 avenue de la forêt de Haye, B.P. 160, 54500 Vandœuvre, France; Schmitt J.-F.; Laboratoire d'Énergétique et de Mécanique Théorique et Appliquée (UMR 7563 du CNRS), École Nationale Supérieure d'Électricité et de Mécanique, 2 avenue de la forêt de Haye, B.P. 160, 54500 Vandœuvre, France; Cunat C.; Laboratoire d'Énergétique et de Mécanique Théorique et Appliquée (UMR 7563 du CNRS), École Nationale Supérieure d'Électricité et de Mécanique, 2 avenue de la forêt de Haye, B.P. 160, 54500 Vandœuvre, France (EDP Sciences, 1999)
  • A tunable Er<sup>3+</sup>–doped fiber laser with polarimetric and Mach-Zehnder filters
    Azami, N.; Saïssy, A.; De Micheli, M.; Monnom, G.; Ostrowsky, D. B.; Azami N.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (UMR 6622 du CNRS), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; Saïssy A.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (UMR 6622 du CNRS), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; De Micheli M.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (UMR 6622 du CNRS), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; Monnom G.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (UMR 6622 du CNRS), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; Ostrowsky D. B.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (UMR 6622 du CNRS), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Modelling of gradients in elastic properties for acoustic microscopy characterizations
    Nounah, H.; Cros, B.; Attal, J.; Nounah H.; LIM, Faculté des Sciences, Université Ibnou Zohr, B.P. 28/S, Agadir, Morocco; Cros B.; LAIN, Université Montpellier II, 34095 Montpellier Cedex 05, France; Attal J.; LAIN, Université Montpellier II, 34095 Montpellier Cedex 05, France (EDP Sciences, 1999)
  • Advanced microscopy techniques resolving complex precipitates in steels*
    Saikaly, W.; Soto, R.; Bano, X.; Issartel, C.; Rigaut, G.; Charaï, A.; Saikaly W.; Laboratoire de Métallurgie, EDIFIS (UMR 6518 du CNRS), case 511, Faculté des Sciences et Techniques de St. Jérôme, 13397 Marseille Cedex 20, France; Soto R.; Laboratoire de Métallurgie, EDIFIS (UMR 6518 du CNRS), case 511, Faculté des Sciences et Techniques de St. Jérôme, 13397 Marseille Cedex 20, France; Bano X.; CRPC – SOLLAC, bâtiment DB26, 13776 Fos-sur-Mer Cedex, France; Issartel C.; CRPC – SOLLAC, bâtiment DB26, 13776 Fos-sur-Mer Cedex, France; Rigaut G.; CRPC – SOLLAC, bâtiment DB26, 13776 Fos-sur-Mer Cedex, France; Charaï A.; Laboratoire de Métallurgie, EDIFIS (UMR 6518 du CNRS), case 511, Faculté des Sciences et Techniques de St. Jérôme, 13397 Marseille Cedex 20, France (EDP Sciences, 1999)
  • Electronic speckle pattern shearing interferometry for determining free convection heat transfer coefficient
    Schirripa Spagnolo, G.; Ambrosini, D.; Paoletti, D.; Schirripa Spagnolo G.; INFM – Dipartimento di Ingegneria Elettronica, Università di Roma Tre, via Della Vasca Navale 84, 00146 Roma, Italy; Ambrosini D.; INFM – Dipartimento di Energetica, Università di L'Aquila, Loc. Monteluco di Roio, 67040 Roio Poggio (AQ), Italy; Paoletti D.; INFM – Dipartimento di Energetica, Università di L'Aquila, Loc. Monteluco di Roio, 67040 Roio Poggio (AQ), Italy (EDP Sciences, 1999)
  • Phase analysis of nanocomposite magnetic materials by electron energy loss spectrometry
    Hébert-Souche, C.; Bernardi, J.; Schattschneider, P.; Fidler, J.; Jouffrey, B.; Hébert-Souche C.; Institut für Angewandte und Technische Physik, Technische Universität Wien, 1040 Wien, Austria; Bernardi J.; Institut für Angewandte und Technische Physik, Technische Universität Wien, 1040 Wien, Austria; Schattschneider P.; Institut für Angewandte und Technische Physik, Technische Universität Wien, 1040 Wien, Austria; Fidler J.; Institut für Angewandte und Technische Physik, Technische Universität Wien, 1040 Wien, Austria; Jouffrey B.; LMSS-Mat, CNRS-URA 850, École Centrale Paris, grande voie des Vignes, 92295 Châtenay-Malabry, France (EDP Sciences, 2000)
  • An inverse technique to deduce the elasticity of a large artery
    Lagrée, P.-Y.; Lagrée P.-Y.; Laboratoire de Modélisation en Mécanique, Université Paris VI, UMR 7607, B.P. 162, 4 place Jussieu, 75005 Paris, France (EDP Sciences, 2000)