Автор |
Zerrouki, Ch. |
Автор |
Miserey, Fr. |
Автор |
Pinot, P. |
Дата выпуска |
1998 |
dc.description |
Un faisceau lumineux quasi-monochromatique ($\lambda = 632,8$ nm) polarisé (P ou S) éclaire sous incidence oblique un petit élément de la surface d'un échantillon d'alacrite XSH ayant subi un polissage de qualité optique. La répartition angulaire de la lumière diffusée est relevée en plusieurs sites (aire d'un site voisine de 1 mm<sup>2</sup>) à la surface de l'échantillon. La hauteur quadratique moyenne δ et la longueur de corrélation σ caractérisant la rugosité superficielle sont évaluées quantitativement à l'aide de la théorie vectorielle de la diffusion lumineuse. Lorsque la lumière incidente est polarisée S, une dépolarisation de la lumière diffusée est observée, particulièrement pour les sites les plus rugueux. Cette dépolarisation n'est pas prévue par les calculs théoriques limités au premier ordre. Son effet sur l'évaluation quantitative des deux paramètres δ et σ est examiné. |
Формат |
application.pdf |
Издатель |
EDP Sciences |
Копирайт |
© EDP Sciences, 1998 |
Название |
Répartition angulaire de la lumière diffusée par un échantillon poli du super-alliage CoCr20WNi (Alacrite XSH) ; application à la détermination des paramètres statistiques caractérisant la rugosité superficielle |
Тип |
research-article |
DOI |
10.1051/epjap:1998143 |
Electronic ISSN |
1286-0050 |
Print ISSN |
1286-0042 |
Журнал |
The European Physical Journal Applied Physics |
Том |
1 |
Первая страница |
253 |
Последняя страница |
259 |
Аффилиация |
Zerrouki Ch.; BNM-INM, 292 rue Saint Martin, 75003 Paris, France |
Аффилиация |
Miserey Fr.; Équipe de recherche CNAM "Métrologie Composants Capteurs", CNAM, 292 rue Saint Martin, 75003 Paris, France |
Аффилиация |
Pinot P.; BNM-INM, 292 rue Saint Martin, 75003 Paris, France |
Выпуск |
2 |