Benchouk, K.; Benseddik, E.; El Moctar, C. O.; Bernède, J. C.; Marsillac, S.; Pouzet, J.; Khellil, A.; Benchouk K.; Université d'Oran, Laboratoire de Physique des Matériaux et Composants pour l'Électronique, B.P. 1524, El Mnaouer Oran, Algeria; Benseddik E.; Université de Cadi Ayyad, Faculté des Sciences et Technique, B.P. 618, Guéliz, Marrakech, Morocco; El Moctar C. O.; Université de Nantes, Équipe de Physique des Solides pour l'Électronique, Groupe couche minces et Matériaux nouveaux, FSTN, 2 rue de la Houssinière, B.P. 92208, 44322 Nantes Cedex 03, France; Bernède J. C.; Université de Nantes, Équipe de Physique des Solides pour l'Électronique, Groupe couche minces et Matériaux nouveaux, FSTN, 2 rue de la Houssinière, B.P. 92208, 44322 Nantes Cedex 03, France; Marsillac S.; Université de Nantes, Équipe de Physique des Solides pour l'Électronique, Groupe couche minces et Matériaux nouveaux, FSTN, 2 rue de la Houssinière, B.P. 92208, 44322 Nantes Cedex 03, France; Pouzet J.; Université de Nantes, Équipe de Physique des Solides pour l'Électronique, Groupe couche minces et Matériaux nouveaux, FSTN, 2 rue de la Houssinière, B.P. 92208, 44322 Nantes Cedex 03, France; Khellil A.; Université d'Oran, Laboratoire de Physique des Matériaux et Composants pour l'Électronique, B.P. 1524, El Mnaouer Oran, Algeria (EDP Sciences, 2000)