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Cambridge University Press: Recent submissions

Описание
  • Comparison of intracellular water content measurements by dark-field imaging and EELS in medium voltage TEM
    Terryn, C.; Michel, J.; Kilian, L.; Bonhomme, P.; Balossier, G.; Terryn C.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Michel J.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Kilian L.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Bonhomme P.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Balossier G.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France (EDP Sciences, 2000)
  • Diagnostic and modeling of N<sub>2</sub>-H<sub>2</sub> discharges for iron nitriding*
    Ricard, A.; Gordiets, B. F.; Pinheiro, M. J.; Ferreira, C. M.; Baravian, G.; Amorim, J.; Bockel, S.; Michel, H.; Ricard A.; CPAT, Université Paul Sabatier, 118 route de Narbonne, 31062 Toulouse, France; Gordiets B. F.; Centro de Fisica de Plasmas, Instituto Superior Tecnico, 1096 Lisboa, Portugal; Pinheiro M. J.; Centro de Fisica de Plasmas, Instituto Superior Tecnico, 1096 Lisboa, Portugal; Ferreira C. M.; Centro de Fisica de Plasmas, Instituto Superior Tecnico, 1096 Lisboa, Portugal; Baravian G.; LPGP-Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France; Amorim J.; Departamento de Fisica, Instituto Tecnologico de Aeronautica, Centro Tecnico Aeroespacial, 12228-900 - Sao Jose de Campos, Brazil; Bockel S.; LSGS, École des Mines, Parc de Saurupt, 54042 Nancy, France; Michel H.; LSGS, École des Mines, Parc de Saurupt, 54042 Nancy, France (EDP Sciences, 1998)
  • Surface-potential decay due to surface conduction
    Crisci, A.; Gosse, B.; Gosse, J-P.; Ollier-Duréault, V.; Crisci A.; Schneider Electric SA, Direction de Recherche de Matériaux, rue H. Tarze, 38050 Grenoble Cedex 9, France; Gosse B.; Laboratoire d'Électrostatique et de Matériaux Diélectriques (UMR 5517), Université J. Fourier, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9, France; Gosse J-P.; Laboratoire d'Électrostatique et de Matériaux Diélectriques (UMR 5517), Université J. Fourier, CNRS, BP 166, 38042 Grenoble Cedex 9, France; Ollier-Duréault V.; Schneider Electric SA, Direction de Recherche de Matériaux, rue H. Tarze, 38050 Grenoble Cedex 9, France (EDP Sciences, 1998)
  • Measurements of conductivity in liquids. Application to 2CaOAl<sub>2</sub>O<sub>3</sub>SiO<sub>2</sub>
    Gruener, G.; Dembinski, K.; Bouvier, A.; Loup, J. P.; Odier, P.; Gruener G.; CRMHT-CNRS, 45071 Orléans Cedex 2, France; Dembinski K.; CRMHT-CNRS, 45071 Orléans Cedex 2, France; Bouvier A.; EDF, Centre des Renardières, 77250 Moret-sur-Loing, France; Loup J. P.; CRMHT-CNRS, 45071 Orléans Cedex 2, France; Odier P.; CRMHT-CNRS, 45071 Orléans Cedex 2, France (EDP Sciences, 1998)
  • Analogy electromagnetism-acoustics: Validation and application to local impedance active control for sound absorption
    Nicolas, L.; Furstoss, M.; Galland, M. A.; Nicolas L.; CEGELY (UPRESA CNRS 5005), École Centrale de Lyon BP163, 69131 Écully Cedex, France; Furstoss M.; LMFA (UMR CNRS 5509), École Centrale de Lyon BP163, 69131 Écully Cedex, France; Galland M. A.; LMFA (UMR CNRS 5509), École Centrale de Lyon BP163, 69131 Écully Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Minimization of the stray inductance in metallized capacitors: Connections and winding geometry dependence
    Siami, S.; Daudé, N.; Joubert, Ch.; Merle, P.; Siami S.; Laboratoire d'Électrotechnique de Montpellier, Université Montpellier II, Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France; Daudé N.; Laboratoire d'Électrotechnique de Montpellier, Université Montpellier II, Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France; Joubert Ch.; Laboratoire d'Électrotechnique de Montpellier, Université Montpellier II, Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France; Merle P.; Laboratoire d'Électrotechnique de Montpellier, Université Montpellier II, Place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France (EDP Sciences, 1998)
  • Analytic calculations of ozone concentration in an oxygen-fed wire-to-cylinder ozonizer and comparison with the Vasil'ev relation
    Held, B.; Peyrous, R.; Held B.; Laboratoire d'Électronique, des Gaz et des Plasmas, Université de Pau, 64000 Pau, France; Peyrous R.; Laboratoire d'Électronique, des Gaz et des Plasmas, Université de Pau, 64000 Pau, France (EDP Sciences, 1998)
  • A few discussion on expert system development for electrical power systems-optimization of an inverter-motor of a railway traction chain
    Fezzani, D.; Piquet, H.; Foch, H.; Ph . Nogaret; Fezzani D.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique Industrielle (UMR-CNRS 5828), I.N.P. Toulouse, E.N.S.E.E.I.H.T., 2 rue Charles Camichel, 31071 Toulouse Cedex, France; Piquet H.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique Industrielle (UMR-CNRS 5828), I.N.P. Toulouse, E.N.S.E.E.I.H.T., 2 rue Charles Camichel, 31071 Toulouse Cedex, France; Foch H.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique Industrielle (UMR-CNRS 5828), I.N.P. Toulouse, E.N.S.E.E.I.H.T., 2 rue Charles Camichel, 31071 Toulouse Cedex, France; Ph . Nogaret ; Alstom Transport SA, rue du Docteur Guinier BP 4, 65600 Séméac, France (EDP Sciences, 1998)
  • Ion beam assisted deposition of organic light emitting devices: Enhanced optoelectronic properties
    Antony, R.; Moliton, A.; Ratier, B.; Moussant, C.; Antony R.; UMOP, Faculté des Sciences, 123 avenue Albert Thomas, 87060 Limoges Cedex, France; Moliton A.; UMOP, Faculté des Sciences, 123 avenue Albert Thomas, 87060 Limoges Cedex, France; Ratier B.; UMOP, Faculté des Sciences, 123 avenue Albert Thomas, 87060 Limoges Cedex, France; Moussant C.; UMOP, Faculté des Sciences, 123 avenue Albert Thomas, 87060 Limoges Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Quantitative analysis of HRTEM images from amorphous materials. I: About the estimation of C<sub>s</sub> and δf from HRTEM diffractograms
    Baik, H. S.; Epicier, T.; Van Cappellen, E.; Baik H. S.; GEMPPM (UMR CNRS 5510), INSA de Lyon, Bâtiment 502, 69621 Villeurbanne Cedex, France; Epicier T.; GEMPPM (UMR CNRS 5510), INSA de Lyon, Bâtiment 502, 69621 Villeurbanne Cedex, France; Van Cappellen E.; Philips Research Laboratories, P.O. Box 80 000, 5600 JA Eindhoven, The Netherlands (EDP Sciences, 1998)
  • Plasma-modification of polymers: process control in PE-CVD of gas-barrier films and plasma-processes for immobilizing anti-thrombotic molecules*
    Lamendola, R.; Favia, P.; Palumbo, F.; d'Agostino, R.; Lamendola R.; Dipartimento di Chimica, Università di Bari Centro di Studio per la Chimica dei Plasmi, CNR via Orabona 4, 70126 Bari, Italy; Favia P.; Dipartimento di Chimica, Università di Bari Centro di Studio per la Chimica dei Plasmi, CNR via Orabona 4, 70126 Bari, Italy; Palumbo F.; Dipartimento di Chimica, Università di Bari Centro di Studio per la Chimica dei Plasmi, CNR via Orabona 4, 70126 Bari, Italy; d'Agostino R.; Dipartimento di Chimica, Università di Bari Centro di Studio per la Chimica dei Plasmi, CNR via Orabona 4, 70126 Bari, Italy (EDP Sciences, 1998)
  • Electrical and optical investigations of Rb<sub>2</sub>ZnCl<sub>4</sub> crystals in the vicinity of the incommensurate phase
    Abu El-Fadl, A.; Abu El-Fadl A.; Physics Department, Faculty of Science, Assiut University, Assiut, Egypt (EDP Sciences, 1998)
  • Gate-induced spin precession in an In<sub>0.53</sub>Ga<sub>0.47</sub>As two dimensional electron gas
    Bournel, A.; Dollfus, P.; Bruno, P.; Hesto, P.; Bournel A.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA22), Université Paris Sud, Bâtiment 220, 91405 Orsay Cedex, France; Dollfus P.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA22), Université Paris Sud, Bâtiment 220, 91405 Orsay Cedex, France; Bruno P.; Max-Planck Institut für Mikrostrukturphysik, Weinberg 2, 06120 Halle, Germany; Hesto P.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA22), Université Paris Sud, Bâtiment 220, 91405 Orsay Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Étude par analogie électrique de différents types de tubes à gaz pulsé : modélisation et expérience*
    Halouane, A.; J.–C. Maréchal; David, M.; Halouane A.; Département de physique, École Normale Supérieure, 24 rue Lhomond, 75005 Paris, France; J.–C. Maréchal ; Département de physique, École Normale Supérieure, 24 rue Lhomond, 75005 Paris, France; David M.; Air Liquide, DTA , BP 15, 38360 Sassenage, France (EDP Sciences, 1998)
  • Investigation on base surface recombination in Self Passivated GaAlAs/GaInP/GaAs Heterojunction Bipolar Transistor
    Bourguiga, R.; Sik, H.; Scavennec, A.; Bourguiga R.; Faculté des Sciences de Bizerte, 7021 Zarzouna-Bizerte, Tunisia; Sik H.; France Telecom, Centre National d'Études des Télécommunications, Paris B Laboratoire de Bagneux, 196 avenue Henri Ravera, BP 107, 92225 Bagneux Cedex, France; Scavennec A.; France Telecom, Centre National d'Études des Télécommunications, Paris B Laboratoire de Bagneux, 196 avenue Henri Ravera, BP 107, 92225 Bagneux Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • An experimental method for measuring the Poisson's ratio in thin films and multilayers using a tensile machine set up on an X-ray goniometer
    Renault, P. O.; Badawi, K. F.; Goudeau, Ph.; Bimbault, L.; Renault P. O.; Laboratoire de Métallurgie Physique (UMR 6630 CNRS), Université de Poitiers - SP2MI, Téléport 2, bd Marie et Pierre Curie, BP 30179, 86962 Futuroscope Chasseneuil Cedex, France; Badawi K. F.; Laboratoire de Métallurgie Physique (UMR 6630 CNRS), Université de Poitiers - SP2MI, Téléport 2, bd Marie et Pierre Curie, BP 30179, 86962 Futuroscope Chasseneuil Cedex, France; Goudeau Ph.; Laboratoire de Métallurgie Physique (UMR 6630 CNRS), Université de Poitiers - SP2MI, Téléport 2, bd Marie et Pierre Curie, BP 30179, 86962 Futuroscope Chasseneuil Cedex, France; Bimbault L.; Laboratoire de Métallurgie Physique (UMR 6630 CNRS), Université de Poitiers - SP2MI, Téléport 2, bd Marie et Pierre Curie, BP 30179, 86962 Futuroscope Chasseneuil Cedex, France (EDP Sciences, 2000)
  • Multi-converter multi-machine systems: application for electromechanical drives
    Bouscayrol, A.; Davat, B.; de Fornel, B.; François, B.; Hautier, J. P.; Meibody-Tabar, F.; Pietrzak-David, M.; Bouscayrol A.; L2EP Lille, Bât. P2, USTL, 59655 Villeneuve d'Ascq Cedex, France; Davat B.; GREEN (UPRESA-CNRS 7037), ENSEM, 2 avenue de la Forêt de Haye, 51600 Vandœuvre-les-Nancy, France; de Fornel B.; LEEI (UMR-CNRS 5828), ENSEEIHT, 2 rue Camichel, 31071 Toulouse Cedex, France; François B.; L2EP Lille, Bât. P2, USTL, 59655 Villeneuve d'Ascq Cedex, France; Hautier J. P.; L2EP Lille, Bât. P2, USTL, 59655 Villeneuve d'Ascq Cedex, France; Meibody-Tabar F.; GREEN (UPRESA-CNRS 7037), ENSEM, 2 avenue de la Forêt de Haye, 51600 Vandœuvre-les-Nancy, France; Pietrzak-David M.; LEEI (UMR-CNRS 5828), ENSEEIHT, 2 rue Camichel, 31071 Toulouse Cedex, France (EDP Sciences, 2000)
  • Efficiency of Lamb modes in the spatial and frequency acoustic signatures for a thin layer by the resonance theory
    Ramdani, A.; Augereau, F.; Sidki, M.; Despaux, G.; Ramdani A.; Laboratoire des Sciences des Matériaux, Département de Physique, Faculté des Sciences, route Ben Maâchou, 24000 El Jadida, Morocco; Augereau F.; Laboratoire d'Analyse des Interfaces et de Nanophysique (UPRESA 5011), Case courrier 82, Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France; Sidki M.; Laboratoire des Sciences des Matériaux, Département de Physique, Faculté des Sciences, route Ben Maâchou, 24000 El Jadida, Morocco; Despaux G.; Laboratoire d'Analyse des Interfaces et de Nanophysique (UPRESA 5011), Case courrier 82, Université Montpellier II, place Eugène Bataillon, 34095 Montpellier Cedex 5, France (EDP Sciences, 2000)
  • Contactless mapping of lifetime and diffusion length scan map of minority carriers in silicon wafers
    Palais, O.; Gervais, J.; Yakimov, E.; Martinuzzi, S.; Palais O.; Laboratoire de Photoélectricité LPDSO (EA 2192), Université de Marseille, 13397 Marseille Cedex 20, France; Gervais J.; Laboratoire de Photoélectricité LPDSO (EA 2192), Université de Marseille, 13397 Marseille Cedex 20, France; Yakimov E.; Laboratoire de Photoélectricité LPDSO (EA 2192), Université de Marseille, 13397 Marseille Cedex 20, France; Martinuzzi S.; Laboratoire de Photoélectricité LPDSO (EA 2192), Université de Marseille, 13397 Marseille Cedex 20, France (EDP Sciences, 2000)
  • Mechanical behaviour and deformation mechanisms of Ni-Ti shape memory alloys in tension
    Roumagnac, P.; Guillemer-Néel, C.; Saanouni, K.; Clavel, M.; Roumagnac P.; Domaine Mécanique, LG2mS, UPRESA 6066, Université de Technologie de Compiègne, BP 20-529, 60205 Compiègne Cedex, France; Guillemer-Néel C.; Domaine Mécanique, LG2mS, UPRESA 6066, Université de Technologie de Compiègne, BP 20-529, 60205 Compiègne Cedex, France; Saanouni K.; GSM/LASMIS, Université de Technologie de Troyes, BP 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Clavel M.; Domaine Mécanique, LG2mS, UPRESA 6066, Université de Technologie de Compiègne, BP 20-529, 60205 Compiègne Cedex, France (EDP Sciences, 2000)