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Cambridge University Press: Recent submissions

  • Pham, P.; Cauffet, G.; Bardou, A.; Olivares, J.; Novakov, E.; Pham P.; Laboratoire d'Instrumentation Micro-Informatique et d'Electronique, LIME/UJFG, BP 53X, 38041 Grenoble, France; Cauffet G.; Laboratoire d'Instrumentation Micro-Informatique et d'Electronique, LIME/UJFG, BP 53X, 38041 Grenoble, France; Bardou A.; INSERM - Cardiologie Théorique - CHU Pitié Salpétrière, 91 boulevard de l'Hôpital, 75634 Paris Cedex 13, France; Olivares J.; LBFA/UJFG, BP 53, 38041 Grenoble Cedex 9, France; Novakov E.; Laboratoire d'Instrumentation Micro-Informatique et d'Electronique, LIME/UJFG, BP 53X, 38041 Grenoble, France (EDP Sciences, 2000)
  • Chelouah, R.; Siarry, P.; Berthiau, G.; De Barmon, B.; Chelouah R.; Université de Cergy-Pontoise, Neuville-sur-Oise, 95031 Cergy-Pontoise, France; Siarry P.; Université de Paris XII, LERISS, 61 avenue du Général de Gaulle, 94010 Créteil, France; Berthiau G.; CEA Saclay, CEREM/STA/LCME, 91191 Gif-sur-Yvette, France; De Barmon B.; CEA Saclay, CEREM/STA/LCME, 91191 Gif-sur-Yvette, France (EDP Sciences, 2000)
  • Pennanéac'h, D. M.; Poujouly, S.; Placko, D.; Gaucher, P.; Faure, S. P.; Pennanéac'h D. M.; Systèmes Mésoélectroniques-Capteurs, LESiR (ESA 8029) and PPSM (UMR 8531), ENS de Cachan, 61 avenue of Président Wilson, 94235 Cachan, France; Poujouly S.; Systèmes Mésoélectroniques-Capteurs, LESiR (ESA 8029) and PPSM (UMR 8531), ENS de Cachan, 61 avenue of Président Wilson, 94235 Cachan, France; Placko D.; Systèmes Mésoélectroniques-Capteurs, LESiR (ESA 8029) and PPSM (UMR 8531), ENS de Cachan, 61 avenue of Président Wilson, 94235 Cachan, France; Gaucher P.; Thomson-CSF, Laboratoire Central de Recherche, Domaine de Corbeville, 91404 Orsay Cedex, France; Faure S. P.; Systèmes Mésoélectroniques-Capteurs, LESiR (ESA 8029) and PPSM (UMR 8531), ENS de Cachan, 61 avenue of Président Wilson, 94235 Cachan, France (EDP Sciences, 2000)
  • Chen, Y.; Lebib, A.; Li, S.; Pépin, A.; Peyrade, D.; Natali, M.; Cambril, E.; Chen Y.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Lebib A.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Li S.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Pépin A.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Peyrade D.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Natali M.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France; Cambril E.; Laboratoire de Microstructures et de Microélectronique, CNRS, 196 avenue Henri Ravera, 92225 Bagneux, France (EDP Sciences, 2000)
  • Shkerdin, G.; Stiens, J.; Vounckx, R.; Shkerdin G.; Institute of Radio Engineering and Electronics of RAS, Vvedensky Square 1, 141120 Fryazino (Moscow Region), Russia; Stiens J.; Vrije Universiteit Brussel, Lab. for Micro and Optoelectronics, Electronics Department, Pleinlaan 2, 1050 Brussels, Belgium; Vounckx R.; Vrije Universiteit Brussel, Lab. for Micro and Optoelectronics, Electronics Department, Pleinlaan 2, 1050 Brussels, Belgium (EDP Sciences, 2000)
  • Abd El-Salam, F.; Abd El-Khalek, A. M.; Nada, R. H.; Abd El-Salam F.; Physics Department, Faculty of Education, Ain Shams University, Cairo, Egypt; Abd El-Khalek A. M.; Physics Department, Faculty of Education, Ain Shams University, Cairo, Egypt; Nada R. H.; Physics Department, Faculty of Education, Ain Shams University, Cairo, Egypt (EDP Sciences, 2000)
  • Pham, P.; Massé, P.; Berthier, J.; Pham P.; Equipe Commune LETI/bioMérieux, DSYS, CEA, 38054 Grenoble Cedex 9, France; Massé P.; LETI (CEA-Technologies Avancées), DSYS-CSI, 38054 Grenoble Cedex 9, France; Berthier J.; LETI (CEA-Technologies Avancées), DSYS-CSI, 38054 Grenoble Cedex 9, France (EDP Sciences, 2000)
  • Jallot, E.; Irigaray, J. L.; Oudadesse, H.; Brun, V.; Weber, G.; Frayssinet, P.; Jallot E.; Laboratoire de Microscopie Électronique, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Irigaray J. L.; Laboratoire de Physique Corpusculaire de Clermont-Ferrand, IN2P3/CNRS, 63177 Aubière Cedex, France; Oudadesse H.; Laboratoire de Physique Corpusculaire de Clermont-Ferrand, IN2P3/CNRS, 63177 Aubière Cedex, France; Brun V.; Laboratoire de Physique Corpusculaire de Clermont-Ferrand, IN2P3/CNRS, 63177 Aubière Cedex, France; Weber G.; Institut de Physique Nucléaire Expérimentale, B 15, Sart Tilman, 4000 Liège, Belgium; Frayssinet P.; Société industrielle Bioland, 132 route d'Espagne, 31100 Toulouse, France (EDP Sciences, 1999)
  • Vurpillot, F.; Bostel, A.; Menand, A.; Blavette, D.; Vurpillot F.; Sonde Atomique et Microstructures (UMR CNRS 6634), UFR Sciences, 76821 Mont-Saint-Aignan, France; Bostel A.; Sonde Atomique et Microstructures (UMR CNRS 6634), UFR Sciences, 76821 Mont-Saint-Aignan, France; Menand A.; Sonde Atomique et Microstructures (UMR CNRS 6634), UFR Sciences, 76821 Mont-Saint-Aignan, France; Blavette D.; Sonde Atomique et Microstructures (UMR CNRS 6634), UFR Sciences, 76821 Mont-Saint-Aignan, France (EDP Sciences, 1999)
  • Zebboudj, Y.; Ikene, R.; Hartmann, G.; Zebboudj Y.; Laboratoire de Haute Tension, Université A. Mira de Béjaïa, 06000 Béjaïa, Algeria; Ikene R.; Laboratoire de Haute Tension, Université A. Mira de Béjaïa, 06000 Béjaïa, Algeria; Hartmann G.; Laboratoire de Physique des Gaz et des Plasmas, équipe Décharges Électriques et Environnement, Plateau de Moulon, 91192 Gif-sur-Yvette, France (EDP Sciences, 1999)
  • Aknin, N.; El Moussaoui, A.; Iben Yaich, M.; Essaaidi, M.; Aknin N.; Electronics & Microwaves Group, Department of Physics, Faculty of Sciences, Abdelmalek Essaadi University, P.O. Box 2121, Tetuan 93000, Morocco; El Moussaoui A.; Electronics & Microwaves Group, Department of Physics, Faculty of Sciences, Abdelmalek Essaadi University, P.O. Box 2121, Tetuan 93000, Morocco; Iben Yaich M.; Electronics & Microwaves Group, Department of Physics, Faculty of Sciences, Abdelmalek Essaadi University, P.O. Box 2121, Tetuan 93000, Morocco; Essaaidi M.; Electronics & Microwaves Group, Department of Physics, Faculty of Sciences, Abdelmalek Essaadi University, P.O. Box 2121, Tetuan 93000, Morocco (EDP Sciences, 1999)
  • Bourgeois, F.; Brenier, A.; Métrat, G.; Muhlstein, N.; Boulon, G.; Bourgeois F.; Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (UMR CNRS 5620), Université Claude Bernard-Lyon I, 43 boulevard 11 November 1918, 69629 Villeurbanne Cedex, France; Brenier A.; Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (UMR CNRS 5620), Université Claude Bernard-Lyon I, 43 boulevard 11 November 1918, 69629 Villeurbanne Cedex, France; Métrat G.; Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (UMR CNRS 5620), Université Claude Bernard-Lyon I, 43 boulevard 11 November 1918, 69629 Villeurbanne Cedex, France; Muhlstein N.; Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (UMR CNRS 5620), Université Claude Bernard-Lyon I, 43 boulevard 11 November 1918, 69629 Villeurbanne Cedex, France; Boulon G.; Laboratoire de Physico-Chimie des Matériaux Luminescents (UMR CNRS 5620), Université Claude Bernard-Lyon I, 43 boulevard 11 November 1918, 69629 Villeurbanne Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Bouchemat, T.; Hobar, F.; Koster, A.; Laval, S.; Bouchemat, M.; Pascal, D.; Bouchemat T.; Institut d'Électronique, Université de Constantine, route d'Aïn el Bey, Constantine, Algeria; Hobar F.; Institut d'Électronique, Université de Constantine, route d'Aïn el Bey, Constantine, Algeria; Koster A.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA 22), Bâtiment 220, Université Paris Sud, 91405 Orsay Cedex, France; Laval S.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA 22), Bâtiment 220, Université Paris Sud, 91405 Orsay Cedex, France; Bouchemat M.; Institut d'Électronique, Université de Constantine, route d'Aïn el Bey, Constantine, Algeria; Pascal D.; Institut d'Électronique Fondamentale (CNRS URA 22), Bâtiment 220, Université Paris Sud, 91405 Orsay Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Kanzari, M.; Abaab, M.; Rezig, B.; Brunel, M.; Kanzari M.; Laboratoire de Photovoltaïque et Matériaux Semiconducteurs, ENIT, B.P. 37, Le Belvédère, 1002 Tunis, Tunisia; Abaab M.; Laboratoire de Photovoltaïque et Matériaux Semiconducteurs, ENIT, B.P. 37, Le Belvédère, 1002 Tunis, Tunisia; Rezig B.; Laboratoire de Photovoltaïque et Matériaux Semiconducteurs, ENIT, B.P. 37, Le Belvédère, 1002 Tunis, Tunisia; Brunel M.; Laboratoire de Cristallographie, 25 avenue des Martyrs, 166X, 38042 Grenoble, France (EDP Sciences, 1999)
  • Iliescu, B.; Enculescu, I.; Klapper, H.; Stamatin, I.; Iliescu B.; National Institute of Materials Physics, P.O. Box MG-7, Bucharest-Magurele 76900, Romania; Enculescu I.; National Institute of Materials Physics, P.O. Box MG-7, Bucharest-Magurele 76900, Romania; Klapper H.; Mineralogisch-Petrologisches Institut der Universitat Bonn, Poppelsdorfer Schloss, 53115 Bonn, Germany; Stamatin I.; University of Bucharest, Faculty of Physics, P.O. Box MG-11, Bucharest 76900, Romania (EDP Sciences, 1999)
  • Laddada, R.; Benrezzak, S.; Adam, P. M.; Viardot, G.; Bijeon, J. L.; Royer, P.; Laddada R.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Benrezzak S.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Adam P. M.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Viardot G.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Bijeon J. L.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France; Royer P.; Laboratoire de Nanotechnologie et d'Instrumentation Optique (LNIO), Université de technologie de Troyes, 12 rue Marie Curie, B.P. 2060, 10010 Troyes Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Pastré, D.; Troyon, M.; Pastré D.; Université de Reims, Unité de Thermique et Analyse Physique, EA 2061, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France; Troyon M.; Université de Reims, Unité de Thermique et Analyse Physique, EA 2061, 21 rue Clément Ader, 51685 Reims Cedex 2, France (EDP Sciences, 1999)
  • Nesvizhevsky, V. V.; Strelkov, A. V.; Geltenbort, P.; Iaydjiev, P. S.; Nesvizhevsky V. V.; Institute Laue-Langevin, 38042 Grenoble Cedex 9, France ; Petersburg Nuclear Physics Institute, 188350 Gatchina, Russia; Strelkov A. V.; Joint Institute for Nuclear Research, 141980 Dubna, Russia; Geltenbort P.; Institute Laue-Langevin, 38042 Grenoble Cedex 9, France; Iaydjiev P. S.; Rutherford Appelton Laboratory, Chilton, Didcot, Oxon OX11 0QX, UK and Institute of Nuclear Research and Nuclear Energy, Sofia, Bulgaria (EDP Sciences, 1999)
  • Mangiagalli, P.; Levalois, M.; Marie, P.; Rancoita, P. G.; Rattaggi, M.; Mangiagalli P.; LERMAT ISMRA (UPRESA 6004), 6 boulevard Maréchal Juin, 14050 Caen, France; Levalois M.; LERMAT ISMRA (UPRESA 6004), 6 boulevard Maréchal Juin, 14050 Caen, France; Marie P.; LERMAT ISMRA (UPRESA 6004), 6 boulevard Maréchal Juin, 14050 Caen, France; Rancoita P. G.; INFN, Sezione di Milano, via Celoria 16, 20100 Milano, Italia; Rattaggi M.; INFN, Sezione di Milano, via Celoria 16, 20100 Milano, Italia (EDP Sciences, 1999)
  • Jandieri, G.; Diasamidze, Zh.; Jandieri, V.; Jandieri G.; Georgian Technical university, Department of Physics, 77 Kostava Str., Tbilisi 380075, Georgia; Diasamidze Zh.; Georgian Technical university, Department of Physics, 77 Kostava Str., Tbilisi 380075, Georgia; Jandieri V.; Georgian Technical university, Department of Physics, 77 Kostava Str., Tbilisi 380075, Georgia (EDP Sciences, 1999)