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Cambridge University Press: Recent submissions

Описание
  • Measurement of pump induced refractive index change in Er<sup>3+</sup> doped fiber by two-mode interferometry
    Saïssy, A.; Azami, N.; Jones, J.; Saïssy A.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (CNRS-UMR 6622), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; Azami N.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (CNRS-UMR 6622), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France; Jones J.; Laboratoire de Physique de la Matière Condensée (CNRS-UMR 6622), Université de Nice-Sophia Antipolis, Parc Valrose, 06108 Nice Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • I−V characteristics of co-planar metal-semiconductor-metal nanojunctions
    Rousset, V.; Joachim, C.; Ondarçuhu, T.; Rousset, B.; Rousset V.; CEMES-LOE/CNRS, 29 rue J. Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France; Joachim C.; CEMES-LOE/CNRS, 29 rue J. Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France; Ondarçuhu T.; CEMES-LOE/CNRS, 29 rue J. Marvig, BP 4347, 31055 Toulouse Cedex, France; Rousset B.; LAAS/CNRS, 7 avenue du Colonel Roche, 31077 Toulouse Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Microscale friction investigation of polysilicon surface using scanning force microscopy
    Flueraru, C.; Cobianu, C.; Dascalu, D.; Flueraru, M.; Flueraru C.; Institute of Microtechnology, PO Box 38-160, Bucharest 72225, Romania; Cobianu C.; Institute of Microtechnology, PO Box 38-160, Bucharest 72225, Romania; Dascalu D.; Institute of Microtechnology, PO Box 38-160, Bucharest 72225, Romania; Flueraru M.; Department for Organic Chemistry, University of Bucharest, Bld. Carol 13, Bucharest, Romania (EDP Sciences, 1998)
  • New process of determination of the temperature of a lossy material
    Reda, S.; Ait-Abdelmalek, R.; Constant, E.; Vandevelde, J. C.; Reda S.; 11 rue Marcel Sembat, 59260 Hellemmes, France; Ait-Abdelmalek R.; University of Glasgow, Department of Physics and Astronomy, Glasgow G128QQ, U.K.; Constant E.; Institut d'Électronique et de Microélectronique du Nord Département Hyperfréquences et Semi-conducteurs (U.M.R. CNRS 9929), 59652 Villeneuve d'Ascq Cedex, France; Vandevelde J. C.; Institut d'Électronique et de Microélectronique du Nord Département Hyperfréquences et Semi-conducteurs (U.M.R. CNRS 9929), 59652 Villeneuve d'Ascq Cedex, France (EDP Sciences, 1998)
  • Wall shear stress in collapsed tubes
    Naili, S.; Ribreau, C.; Naili S.; Laboratoire de Mécanique Physique (CNRS UPRES-A 7052), Université Paris XII, Val-de-Marne, Faculté des Sciences et Technologie, 61, avenue du Général de Gaulle, 94010 Créteil Cedex, France; Ribreau C.; Laboratoire de Physiologie du Mouvement, Université Paris Sud, bâtiment 470, Campus Universitaire, 91405 Orsay Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Yeast cell metabolism investigated by CO<sub>2</sub> production and soft X-ray irradiation
    Masini, A.; Batani, D.; Previdi, F.; Milani, M.; Pozzi, A.; Turcu, E.; Huntington, S.; Takeyasu, H.; Masini A.; Dipartimento di Fisica, Seconda Università di Milano Bicocca, via Emanueli 15, 20126 Milano, Italy ; INFM, Istituto Nazionale di Fisica della Materia, Milano, Italy; Batani D.; Dipartimento di Fisica, Seconda Università di Milano Bicocca, via Emanueli 15, 20126 Milano, Italy ; INFM, Istituto Nazionale di Fisica della Materia, Milano, Italy; Previdi F.; Dipartimento di Elettronica e Informazione, Politecnico di Milano, via Ponzio 34/5, 20133 Milano, Italy ; INFM, Istituto Nazionale di Fisica della Materia, Milano, Italy; Milani M.; Dipartimento di Scienza dei Materiali, Seconda Università di Milano Bicocca, via Emanueli 15, 20126 Milano, Italy ; INFM, Istituto Nazionale di Fisica della Materia, Milano, Italy; Pozzi A.; Dipartimento di Fisica, Seconda Università di Milano Bicocca, via Emanueli 15, 20126 Milano, Italy; Turcu E.; Rutherford Appleton Laboratory, Chilton Didcot, Oxon, OX11 OQX, UK; Huntington S.; Rutherford Appleton Laboratory, Chilton Didcot, Oxon, OX11 OQX, UK; Takeyasu H.; Rutherford Appleton Laboratory, Chilton Didcot, Oxon, OX11 OQX, UK (EDP Sciences, 1999)
  • Annealing of radiation damage in MOS devices: Study by diode parameter determination
    Bendada, E.; Raïs, K.; Bendada E.; Département de Génie Électrique, Université My Ismaïl-F.S.T, BP 509, Errachidia, Marocco; Raïs K.; Laboratoire de Caractérisation des Composants à Semiconducteurs, Université Chouaïb Doukkali, BP 20, El Jadida, Marocco (EDP Sciences, 1999)
  • Approches novatrices à la génération de champs magnétiques intenses : optimisation d'une source de flux à aimants permanents*
    Bloch, F.; Cugat, O.; Toussaint, J.-C.; Meunier, G.; Bloch F.; Laboratoire d'Électrotechnique de Grenoble (UMR CNRS 5529), LEG-ENSIEG, BP 46, 38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex, France; Cugat O.; Laboratoire d'Électrotechnique de Grenoble (UMR CNRS 5529), LEG-ENSIEG, BP 46, 38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex, France; Toussaint J.-C.; Laboratoire de Magnétisme Louis Néel (UPR CNRS 5051), BP 166, 25 avenue des Martyrs, 38042 Grenoble, Cedex, France; Meunier G.; Laboratoire d'Électrotechnique de Grenoble (UMR CNRS 5529), LEG-ENSIEG, BP 46, 38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Phase transitions in mixed disordered crystals Rb<sub>1−x </sub>K<sub> x </sub>CaF<sub>3</sub> (0 < x < 1) investigated by Raman spectroscopy
    Daniel, Ph.; Toulouse, J.; Rousseau, M.; Daniel Ph.; Laboratoire de Physique de l'État Condensé (UPRES A CNRS 6087), Université du Maine, avenue Olivier Messiaen, 72085 Le Mans Cedex 9, France; Toulouse J.; Physics Department-Lehigh University 16, Memorial Drive, East PA 18015 Bethlehem, USA; Rousseau M.; Laboratoire de Physique de l'État Condensé (UPRES A CNRS 6087), Université du Maine, avenue Olivier Messiaen, 72085 Le Mans Cedex 9, France (EDP Sciences, 1999)
  • A predictive sampling scale model for direct torque control of the induction machine fed by multilevel voltage-source inverters
    Martins, C. A.; Meynard, T. A.; Roboam, X.; Carvalho, A. S.; Martins C. A.; Laboratoire d'Électronique et d'Électronique Industrielle de l'ENSEEIHT (UMR CNRS 5828), 2 rue Ch. Camichel, BP 7122, 31071 Toulouse Cedex 7, France; Meynard T. A.; Laboratoire d'Électronique et d'Électronique Industrielle de l'ENSEEIHT (UMR CNRS 5828), 2 rue Ch. Camichel, BP 7122, 31071 Toulouse Cedex 7, France; Roboam X.; Laboratoire d'Électronique et d'Électronique Industrielle de l'ENSEEIHT (UMR CNRS 5828), 2 rue Ch. Camichel, BP 7122, 31071 Toulouse Cedex 7, France; Carvalho A. S.; Departamento Engenharia Electrotécnica e de Computadores ACI, FEUP Rua dos Bragas, 4099 Porto Codex, Portugal (EDP Sciences, 1999)
  • Liquid metal embrittlement: A state-of-the-art appraisal
    Joseph, B.; Picat, M.; Barbier, F.; Joseph B.; CEA-CEREM/SCECF, BP 6, 92265 Fontenay-aux-Roses Cedex, France; Picat M.; CEA-CEREM/SCECF, BP 6, 92265 Fontenay-aux-Roses Cedex, France; Barbier F.; CEA-CEREM/SCECF, BP 6, 92265 Fontenay-aux-Roses Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Influence of aging on electrolytic capacitors function in static converters: Fault prediction method
    Venet, P.; Lahyani, A.; Grellet, G.; Ah-Jaco, A.; Venet P.; CEGELY, Université Claude Bernard de Lyon (UPRES A 5005 CNRS), bâtiment 721, 43 boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France; Lahyani A.; CEGELY, Université Claude Bernard de Lyon (UPRES A 5005 CNRS), bâtiment 721, 43 boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France; Grellet G.; CEGELY, Université Claude Bernard de Lyon (UPRES A 5005 CNRS), bâtiment 721, 43 boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France; Ah-Jaco A.; CEGELY, Université Claude Bernard de Lyon (UPRES A 5005 CNRS), bâtiment 721, 43 boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France (EDP Sciences, 1999)
  • Sculptured thin film Šolc filters for optical sensing of gas concentration
    Ertekin, E.; Lakhtakia, A.; Ertekin E.; Computational & Theoretical Materials Sciences Group (CATMAS), Department of Engineering Science and Mechanics, Pennsylvania State University, University Park, PA 16802–1401, USA; Lakhtakia A.; Computational & Theoretical Materials Sciences Group (CATMAS), Department of Engineering Science and Mechanics, Pennsylvania State University, University Park, PA 16802–1401, USA (EDP Sciences, 1999)
  • Determination of the characteristic interfacial electronic states of {111} Cu-MgO interfaces by ELNES
    Imhoff, D.; Laurent, S.; Colliex, C.; Backhaus-Ricoult, M.; Imhoff D.; Laboratoire de Physique des Solides, CNRS, bâtiment 510, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France; Laurent S.; Centre d'Études de Chimie Métallurgique, CNRS, 15 rue G. Urbain, 94407 Vitry sur Seine, France; Colliex C.; Laboratoire de Physique des Solides, CNRS, bâtiment 510, Université Paris-Sud, 91405 Orsay, France; Backhaus-Ricoult M.; Centre d'Études de Chimie Métallurgique, CNRS, 15 rue G. Urbain, 94407 Vitry sur Seine, France (EDP Sciences, 1999)
  • Convergence de la méthode du point fixe modifiée ? pour le calcul de champ magnétique avec hystérésis*
    Ossart, F.; Ionita, V.; Ossart F.; Laboratoire d'Électrotechnique de Grenoble (CNRS UMR 5529), ENSIEG, BP 46, 38402 Saint-Martin-d'Hères Cedex, France; Ionita V.; Université “Politehnica” Bucuresti Spl. Indep. 313, 77206 Bucuresti, Romania (EDP Sciences, 1999)
  • Suppression of the “notch effect” in microwave surface resistance in YBa<sub>2</sub>Cu<sub>3</sub>O<sub>7</sub> films on MgO (100) substrate by deposition of ultra-thin SrTiO<sub>3</sub> seed layers
    Contour, J.-P.; Couvert, C.; Durand, O.; Lemaître, Y.; Lyonnet, R.; Marcilhac, B.; Contour J.-P.; Unité Mixte de Physique CNRS / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France; Couvert C.; Unité Mixte de Physique CNRS / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France; Durand O.; LCR / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France; Lemaître Y.; Unité Mixte de Physique CNRS / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France; Lyonnet R.; Unité Mixte de Physique CNRS / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France; Marcilhac B.; Unité Mixte de Physique CNRS / Thomson-CSF, 91404 Orsay, France (EDP Sciences, 1999)
  • A special study on the sensitivity of electron mobility with respect to the tunnel oxide thickness for a floating gate electron-tunneling mosfet
    Grado-Caffaro, M. A.; Grado-Caffaro, M.; Grado-Caffaro M. A.; C/Julio Palacios, 11, 9B, 28029 Madrid, Spain; Grado-Caffaro M.; C/Julio Palacios, 11, 9B, 28029 Madrid, Spain (EDP Sciences, 1999)
  • Characterization of microporous membranes using confocal scanning laser microscopy in fluorescence mode
    Charcosset, C.; Bernengo, J.-C.; Charcosset C.; Laboratoire d'Automatique et de Génie des Procédés, UCB Lyon 1, UPRES A-Q 5007 CNRS, ESCPE-Lyon, Bât. 308 G, 43 boulevard du 11 Novembre 1918, 69622 Villeurbanne Cedex, France; Bernengo J.-C.; UCB Lyon 1, Centre Commun de Quantimétrie, 8 avenue Rockfeller, 69373 Lyon Cedex 08, France (EDP Sciences, 2000)
  • Adaptive meshing in 3D multi-static problem with variable sources*
    Marques, G.; Clénet, S.; Piriou, F.; Marques G.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance de Lille, bâtiment P2 Université de Lille I, 59650 Villeneuve d'Ascq, France; Clénet S.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance de Lille, bâtiment P2 Université de Lille I, 59650 Villeneuve d'Ascq, France; Piriou F.; Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance de Lille, bâtiment P2 Université de Lille I, 59650 Villeneuve d'Ascq, France (EDP Sciences, 2000)
  • Interactions of silver colloids with phospholipid monolayers*
    Tran, Y.; Bernard, S.; Peretti, P.; Tran Y.; Groupe de Recherche en Physique et Biophysique, Université René Descartes - Paris 5, 45 rue des Saints-Pères, 75270 Paris Cedex 06, France; Bernard S.; Groupe de Recherche en Physique et Biophysique, Université René Descartes - Paris 5, 45 rue des Saints-Pères, 75270 Paris Cedex 06, France; Peretti P.; Groupe de Recherche en Physique et Biophysique, Université René Descartes - Paris 5, 45 rue des Saints-Pères, 75270 Paris Cedex 06, France (EDP Sciences, 2000)